Mesin ujian tork automatik suhu tinggi dan rendah RS-6300G-HLT direka untuk ujian kilasan dan ujian hayat mesin telefon bimbit skrin lipat, skrin fleksibel PI, mekanisme rantai ammonium, modul UTG, FPC, dan lain-lain di bawah persekitaran suhu tinggi & rendah.
| Model | RS-6300G-HLT |
| Kapasiti tork pilihan | 0~10kgf.cm (1Nm) 2Nm, 5Nm, 10Nm |
| Resolusi Tork | 0.001kgf.cm atau 0.01N.mm |
| Ketepatan penentukuran tork | ≤ 土0.5%F.s |
| Sudut Ujian | 0~士10000°atau Tiada had |
| Resolusi Sudut | 0.001 ° |
| Ketepatan Penentukuran Sudut | ±0.1° |
| Kebolehulangan Sudut | ±0.1° |
| Kelajuan Ujian | 0.01 ~ 15000 ° / min (250deg / saat Maks) |
| Ketepatan Kelajuan | ±0.5% |
| Julat Suhu | '-40 ~ 100 °C, Ketepatan kawalan suhu: 士2 °C |
| Julat kelembapan | 20% ~ 98% RH |
| Saiz kotak dalam | W500×D350×H600mm |
| Saiz Mesin | W980xD1700xH1700mm |
| Saiz kabinet kawalan | W520xD750xH1400mm |
| Berat badan | 455kg |
| Bekalan kuasa | 1∮,220V,30A |
Mesin Ujian Hayat Telefon Mudah Alih Skrin Lipat RS-6303T direka untuk keperluan ujian telefon bimbit boleh lipat, dan dikehendaki memenuhi ujian hayat lipat empat telefon bimbit boleh lipat dengan saiz W200*L250mm (maks).
Mesin ini direka untuk ujian putaran berterusan (jatuh) telefon bimbit, PDA, CD/MP3, dsb. Piawaian yang berkenaan: IEC60068-2-32GB / T2423.8
Mesin Ujian Jatuh Automatik RS-DP-03A2 direka untuk menilai kesan ke atas prestasi produk apabila pelanggan secara tidak sengaja menjatuhkan produk semasa penggunaan sebenar. Ia sesuai untuk ujian jatuh arah pada produk elektronik pengguna mudah alih seperti telefon bimbit, tablet, pengecas, e-buku, kamus elektronik, bateri, skrin sentuh, fon kepala, dsb.
Direka untuk pelbagai modul skrin sentuh kapasitif dan inframerah (telefon bimbit, tablet, e-buku, kamus elektronik, dll.) dan mampu menjalankan ujian klik dan calar. Untuk ujian ketepatan, ujian jitter, ujian lineariti, ujian kepekaan, ujian calar jangka panjang dan ujian klik jangka panjang skrin kapasitif.
Direka untuk semua jenis modul skrin sentuh kapasitif CTP, mesin telefon bimbit, tablet PC, e-buku, kamus elektronik dan skrin sentuh produk lain untuk melakukan ujian calar klik. Ia sesuai untuk ujian ketepatan skrin kapasitif, ujian jitter, ujian lineariti, ujian sensitiviti, ujian calar masa lama dan ujian klik masa yang lama.
Mesin ini sesuai untuk menguji butang fon kepala, telefon bimbit, tablet, e-buku, kamus elektronik, dll. Ia juga sesuai untuk menguji rintangan hentaman dan hayat pelbagai butang getah konduktif, butang serpihan logam, butang alat kawalan jauh, dsb. produk elektronik.
Mesin ini sesuai untuk ujian hayat putar fon kepala. Kaedah ujian putar ialah: selepas fon kepala dipasang oleh pengapit depan dan belakang, ia diregangkan ke arah yang bertentangan ke jarak tertentu pada masa yang sama, dan kemudian diregangkan ke arah yang bertentangan pada masa yang sama ke kedudukan permulaan. Strok ujian boleh ditetapkan. Selepas ujian N, fon kepala dikeluarkan untuk menguji prestasi ikat kepala.
Penguji Hayat Pengembangan Ikat Kepala Fon Kepala RS-6910 direka untuk ujian hayat pengembangan (pembukaan dan penutupan) fon kepala. Kaedah ujian pengembangan ialah: selepas fon kepala dipasang oleh pengapit kiri dan kanan, ia diregangkan ke jarak tertentu ke arah kiri dan kanan pada masa yang sama dan kemudian kembali ke kedudukan permulaan pada masa yang sama. Strok ujian boleh ditetapkan. Selepas ujian N, tanggalkan fon kepala untuk menguji prestasi ikat kepala
Contactin untuk mation
No. 32 Jalan Timur Qiaoxin, Bandar Qiaotou, Bandar Dongguan, Wilayah Guangdong, China
Hubungi
