Ruang Ujian Kejutan Terma | dua zon
Pemindahan Spesimen Automatik | Konfigurasi Suhu A/B/C | Kapasiti Boleh Disesuaikan
Bilik Ujian Kejutan Haba Dua Zon Siri ITM-Lab CTS direka untuk menilai rintangan komponen elektronik, bahagian automotif, semikonduktor, dan bahan industri terhadap perubahan suhu secara tiba-tiba.
Menampilkan ruang panas dan sejuk yang bebas, sistem ini secara automatik memindahkan spesimen ujian antara dua zon suhu untuk menilai potensi kegagalan yang disebabkan oleh pengembangan terma, pengecutan, dan tekanan bahan.
Tersedia dalam kapasiti 50L–300L, dengan konfigurasi yang disesuaikan untuk memenuhi keperluan ujian yang berbeza.
Spesifikasi Utama
-
Pilihan suhu rendah: −40°C / −55°C / −65°C
-
Julat Kejutan Suhu Tinggi: +60°C hingga +150°C
-
Turun Naik Suhu: ±0.5°C
-
Kapasiti Ruang: 50L–300L / Boleh Disesuaikan
-
Pemindahan Spesimen: Automatik
-
Ruang Dalam: Keluli Tahan Karat SUS304
Ciri-ciri Utama | Kelebihan jualan
- Zon Panas & Sejuk Bebas
Zon suhu yang berasingan membolehkan perubahan suhu pendedahan spesimen yang pantas tanpa perlu memanaskan dan menyejukkan satu ruang ujian berulang kali.
- Pemindahan Spesimen Automatik
Bakul spesimen bergerak secara automatik antara ruang panas dan sejuk mengikut kitaran ujian yang diprogramkan.
- Tiga Konfigurasi Suhu
Jenis A (−40°C), Jenis B (−55°C), dan Jenis C (−65°C) tersedia untuk keperluan ujian suhu rendah yang berbeza.
- Kawalan Suhu Stabil
Turun naik suhu sebanyak ±0.5°C di bawah keadaan operasi yang ditetapkan.
- Pembinaan Ruang Tahan Lasak
Bahagian dalam keluli tahan karat SUS304 dengan penebat haba dan pengedap untuk operasi makmal.
- Operasi Boleh Aturcara
Kawalan automatik tetapan suhu, tempoh pendedahan, pemindahan spesimen, dan kitaran ujian.
Spesifikasi Teknikal
Model Tersedia
Suhu & Prestasi Sistem
Bagaimana Ruang Kejutan Terma Dua Zon Berfungsi
Siri CTS mengekalkan persekitaran panas dan sejuk yang berasingan. Semasa ujian, mekanisme pemindahan automatik menggerakkan bakul spesimen antara dua ruang mengikut masa pendedahan dan kiraan kitaran yang diprogramkan.
Proses ini menghasilkan perubahan pantas dalam suhu pendedahan spesimen dan membantu menilai potensi kerosakan yang disebabkan oleh tekanan haba berulang.
Aplikasi Tipikal
Siri CTS menyokong ujian kebolehpercayaan kejutan haba untuk:
-
Elektronik Automotif: ECU, sensor, penyambung, dan modul elektronik.
-
Semikonduktor: Pakej IC dan komponen elektronik.
-
Pemasangan PCB: Sambungan solder, papan litar, dan sambungan elektronik.
-
Komponen Bateri: Bahan, penyambung, dan penutup berkaitan bateri, tertakluk kepada keperluan keselamatan spesimen.
-
Bahan Industri: Plastik, getah, meterai, pelekat, dan komposit.
Piawaian Ujian yang Terpakai
Siri CTS boleh dikonfigurasikan untuk prosedur kejutan suhu yang berkaitan, termasuk:
-
IEC 60068-2-14 — Perubahan Suhu (Ujian Na)
-
GB/T 2423.22 — Perubahan Suhu
-
Kaedah MIL-STD-810H 503.7 — Kejutan Suhu
-
JEDEC JESD22-A106 — Kejutan Terma
Kebolehgunaan ujian bergantung kepada prosedur yang dipilih, keadaan suhu, beban spesimen, prestasi pemindahan, dan konfigurasi ruang.
Ujian Kilang Sebelum Penghantaran
ITM-LAB menjalankan pemeriksaan pra-penghantaran dan pemeriksaan fungsi ruang kejutan haba CTS, termasuk operasi ruang yang berkaitan, pemindahan spesimen automatik, dan fungsi kawalan.
Minta Sebut Harga
Cari ruang kejutan haba yang sesuai untuk ujian anda
ITM-LAB menawarkan ruang kejutan haba CTS dua zon standard dan tersuai untuk ujian kebolehpercayaan industri.
Untuk menerima konfigurasi dan sebut harga yang sesuai, sila berikan:
-
Dimensi dan berat spesimen
-
Suhu ujian tinggi dan rendah yang diperlukan
-
Masa pendedahan dan kitaran ujian
-
Standard ujian yang berkenaan
-
Kapasiti ruang pilihan
- Apakah fungsi ruang ujian kejutan haba dua zon ?
Ruang kejutan haba dua zon menilai bagaimana produk menahan perubahan mendadak antara suhu tinggi dan rendah. Ia sering digunakan untuk menguji elektronik automotif, pakej semikonduktor, PCB, penyambung, sensor, dan bahan industri bagi kemungkinan kegagalan yang disebabkan oleh tekanan haba berulang.
- Bagaimana ruang kejutan haba dua zon CTS berfungsi?
Siri CTS menggunakan ruang panas dan sejuk yang berasingan. Mekanisme pemindahan automatik menggerakkan bakul spesimen antara dua zon suhu mengikut masa pendedahan yang diprogramkan dan kitaran ujian.
- Apakah julat suhu yang tersedia?
Siri CTS menawarkan tiga konfigurasi suhu rendah:
-
Jenis A: −40°C
-
Jenis B: −55°C
-
Jenis C: −65°C
Julat kejutan suhu tinggi ialah +60°C hingga +150°C. Konfigurasi khusus boleh dibincangkan mengikut keperluan ujian khusus.
- Apakah piawaian ujian yang terpakai?
Siri CTS boleh dikonfigurasikan untuk prosedur ujian kejutan haba seperti IEC 60068-2-14 Test Na, GB/T 2423.22, MIL-STD-810H Method 503.7, dan JEDEC JESD22-A106.
Keserasian dengan piawaian tertentu bergantung pada keadaan suhu yang diperlukan, beban spesimen, prestasi pemindahan, dan konfigurasi ruang yang dipilih.
- Apakah kapasiti ruang yang tersedia?
Kapasiti standard termasuk 50L, 100L, 150L, 200L, dan 300L. ITM-LAB juga menawarkan dimensi ruang yang disesuaikan berdasarkan saiz spesimen, kuantiti, dan keperluan ujian.
- Apakah maklumat yang diperlukan untuk meminta sebut harga?
Sila berikan dimensi dan berat spesimen, suhu tinggi dan rendah yang diperlukan, masa pendedahan, bilangan kitaran ujian, piawaian ujian yang berkenaan, dan kapasiti ruang pilihan.
ITM-LAB akan mengkaji keperluan ini dan mengesyorkan konfigurasi ruang kejutan haba CTS yang sesuai.
Produk yang berkaitan
