Direka untuk semua jenis modul skrin sentuh kapasitif CTP, mesin telefon bimbit, tablet PC, e-buku, kamus elektronik dan skrin sentuh produk lain untuk melakukan ujian calar klik. Ia sesuai untuk ujian ketepatan skrin kapasitif, ujian jitter, ujian lineariti, ujian sensitiviti, ujian calar masa lama dan ujian klik masa yang lama.

Mesin ini direka untuk ujian putaran berterusan (jatuh) telefon bimbit, PDA, CD/MP3, dsb. Piawaian yang berkenaan: IEC60068-2-32GB / T2423.8

Mesin Ujian Hayat Telefon Mudah Alih Skrin Lipat RS-6303T direka untuk keperluan ujian telefon bimbit boleh lipat, dan dikehendaki memenuhi ujian hayat lipat empat telefon bimbit boleh lipat dengan saiz W200*L250mm (maks).

Direka untuk pelbagai modul skrin sentuh kapasitif dan inframerah (telefon bimbit, tablet, e-buku, kamus elektronik, dll.) dan mampu menjalankan ujian klik dan calar. Untuk ujian ketepatan, ujian jitter, ujian lineariti, ujian kepekaan, ujian calar jangka panjang dan ujian klik jangka panjang skrin kapasitif.

Mesin Ujian Jatuh Automatik RS-DP-03A2 direka untuk menilai kesan ke atas prestasi produk apabila pelanggan secara tidak sengaja menjatuhkan produk semasa penggunaan sebenar. Ia sesuai untuk ujian jatuh arah pada produk elektronik pengguna mudah alih seperti telefon bimbit, tablet, pengecas, e-buku, kamus elektronik, bateri, skrin sentuh, fon kepala, dsb.

Mesin ujian tork automatik suhu tinggi dan rendah RS-6300G-HLT direka untuk ujian kilasan dan ujian hayat mesin telefon bimbit skrin lipat, skrin fleksibel PI, mekanisme rantai ammonium, modul UTG, FPC, dan lain-lain di bawah persekitaran suhu tinggi & rendah.

Mesin Ujian Ketahanan Tork Spindle rs-6700 (jenis servo) direka untuk paparan kristal cecair LCD MONITOR, TV kristal cecair V, komputer semua-dalam-satu, dsb. Selepas berkali-kali ujian kecondongan ke hadapan dan ayunan ke belakang, sama ada aci pemutar masih mempunyai daya pegangan atau rintangan aci pemutar menjadi besar dan merosakkan badan plastik.

RS-8106C ialah penguji hayat kilasan khusus yang direka untuk menilai ketahanan dan jangka hayat mekanisme pusing pada fon kepala atas telinga. Dengan mensimulasikan putaran berterusan di bawah sudut dan kelajuan yang boleh dikonfigurasikan, ia memastikan sambungan fon kepala boleh menahan penggunaan berulang tanpa kegagalan—sesuai untuk R&D, kawalan kualiti dan penanda aras.