Mesin Ujian Hayat Telefon Mudah Alih Skrin Lipat RS-6303T direka untuk keperluan ujian telefon bimbit boleh lipat, dan diperlukan untuk memenuhi ujian hayat lipat empat telefon bimbit boleh lipat dengan saiz W200*L250mm (maks).

Mesin ini direka untuk ujian putaran berterusan (jatuh) telefon bimbit, PDA, CD / MP3, dll. Piawaian yang berkenaan: IEC60068-2-32GB/T2423.8

Direka untuk pelbagai modul skrin sentuh kapasitif dan inframerah (telefon bimbit, tablet, e-buku, kamus elektronik, dll.) dan mampu menjalankan ujian klik dan calar. Untuk ujian ketepatan, ujian jitter, ujian lineariti, ujian sensitiviti, ujian calar jangka panjang dan ujian klik jangka panjang skrin kapasitif.

Direka untuk semua jenis modul skrin sentuh kapasitif CTP, mesin telefon bimbit, tablet PC, e-buku, kamus elektronik dan skrin sentuh produk lain untuk melakukan ujian calar klik. Ia sesuai untuk ujian ketepatan skrin kapasitif, ujian jitter, ujian lineariti, ujian sensitiviti, ujian calar masa lama dan ujian klik masa yang lama.

Mesin Ujian Hayat Telefon Bimbit Skrin Lipat direka untuk keperluan ujian telefon bimbit yang dilipat, untuk memenuhi empat atau enam W200 * L250mm (maks) saiz W200 * L250mm (maks) ujian hayat lipatan telefon bimbit yang boleh dilipat.

RS-DP-03A2 ialah mesin ujian kejatuhan automatik termaju yang direka khusus untuk elektronik pengguna kecil, seperti telefon bimbit, tablet, fon kepala dan banyak lagi. Ia membantu pengeluar menilai prestasi dan ketahanan produk selepas kejatuhan secara tidak sengaja, memastikan ia memenuhi piawaian kualiti dan boleh menahan kesan dunia sebenar. Penguji ini ialah pilihan ideal untuk kawalan kualiti, pembangunan produk dan ujian kebolehpercayaan.

Mesin ini sesuai untuk menguji butang fon kepala, telefon bimbit, tablet, e-buku, kamus elektronik, dan lain-lain. Ia juga sesuai untuk menguji rintangan hentaman dan hayat pelbagai butang getah konduktif, butang serpihan logam, butang kawalan jauh, dan lain-lain produk elektronik.

Penguji Hayat Pengembangan Ikat Kepala Fon Kepala RS-6910 direka untuk ujian hayat pengembangan (pembukaan dan penutupan) fon kepala. Kaedah ujian pengembangan ialah: selepas fon kepala dipasang oleh pengapit kiri dan kanan, ia diregangkan ke jarak tertentu dalam arah kiri dan kanan pada masa yang sama dan kemudian dikembalikan ke kedudukan permulaan pada masa yang sama. Strok ujian boleh ditetapkan. Selepas ujian N, tanggalkan fon kepala untuk menguji prestasi ikat kepala