PRODUK

PRODUK
PRODUK
Mesin Ujian Hayat Telefon Bimbit Skrin Lipat RS-6303T

Mesin Ujian Hayat Telefon Mudah Alih Skrin Lipat RS-6303T direka untuk keperluan ujian telefon bimbit boleh lipat, dan dikehendaki memenuhi ujian hayat lipat empat telefon bimbit boleh lipat dengan saiz W200*L250mm (maks).

Penguji Penurunan Sudut Bergolek RS-DP-12A

Mesin ini direka untuk ujian putaran berterusan (jatuh) telefon bimbit, PDA, CD/MP3, dsb. Piawaian yang berkenaan: IEC60068-2-32GB / T2423.8

Mesin Ujian Jatuh Automatik RS-DP-03A2

Mesin Ujian Jatuh Automatik RS-DP-03A2 direka untuk menilai kesan ke atas prestasi produk apabila pelanggan secara tidak sengaja menjatuhkan produk semasa penggunaan sebenar. Ia sesuai untuk ujian jatuh arah pada produk elektronik pengguna mudah alih seperti telefon bimbit, tablet, pengecas, e-buku, kamus elektronik, bateri, skrin sentuh, fon kepala, dsb.

Mesin Ujian Skrin Sentuh RS-5610V

Direka untuk pelbagai modul skrin sentuh kapasitif dan inframerah (telefon bimbit, tablet, e-buku, kamus elektronik, dll.) dan mampu menjalankan ujian klik dan calar. Untuk ujian ketepatan, ujian jitter, ujian lineariti, ujian kepekaan, ujian calar jangka panjang dan ujian klik jangka panjang skrin kapasitif.

 

Penguji Skrin Sentuh Pelbagai Fungsi RS-5610R

Direka untuk semua jenis modul skrin sentuh kapasitif CTP, mesin telefon bimbit, tablet PC, e-buku, kamus elektronik dan skrin sentuh produk lain untuk melakukan ujian calar klik. Ia sesuai untuk ujian ketepatan skrin kapasitif, ujian jitter, ujian lineariti, ujian sensitiviti, ujian calar masa lama dan ujian klik masa yang lama.

Penguji Hayat Kunci Automatik Pneumatik RS-8330A

Mesin ini sesuai untuk menguji butang fon kepala, telefon bimbit, tablet, e-buku, kamus elektronik, dll. Ia juga sesuai untuk menguji rintangan hentaman dan hayat pelbagai butang getah konduktif, butang serpihan logam, butang alat kawalan jauh, dsb. produk elektronik.

Ikat Kepala Fon Kepala Menguji Hayat Berpusing RS-6911A

Mesin ini sesuai untuk ujian hayat putar fon kepala. Kaedah ujian putar ialah: selepas fon kepala dipasang oleh pengapit depan dan belakang, ia diregangkan ke arah yang bertentangan ke jarak tertentu pada masa yang sama, dan kemudian diregangkan ke arah yang bertentangan pada masa yang sama ke kedudukan permulaan. Strok ujian boleh ditetapkan. Selepas ujian N, fon kepala dikeluarkan untuk menguji prestasi ikat kepala.

Penguji Hayat Pengembangan Ikat Kepala Fon Kepala RS-6910

Penguji Hayat Pengembangan Ikat Kepala Fon Kepala RS-6910 direka untuk ujian hayat pengembangan (pembukaan dan penutupan) fon kepala. Kaedah ujian pengembangan ialah: selepas fon kepala dipasang oleh pengapit kiri dan kanan, ia diregangkan ke jarak tertentu ke arah kiri dan kanan pada masa yang sama dan kemudian kembali ke kedudukan permulaan pada masa yang sama. Strok ujian boleh ditetapkan. Selepas ujian N, tanggalkan fon kepala untuk menguji prestasi ikat kepala

Penguji Daya Sisi Penyambung RS-8645A-3

Penguji Daya Sisi Penyambung direka untuk pemegang USB, pemegang fon kepala, palam pengecas untuk melakukan ujian daya sisi depan, belakang, kiri dan kanan telefon bimbit, pad, PC, kamus elektronik dan peranti mudah alih lain.